合肥鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹,一六儀器

一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

 在我們的售前服務(wù)工作中，客戶(hù)通常都會(huì)拿一些在其它機(jī)構(gòu)或者儀器測(cè)量過(guò)的樣品來(lái)與我們儀器進(jìn)行測(cè)試結(jié)果對(duì)比，在確認(rèn)雙方儀器都是正常的情況下，會(huì)存在或多或少的差異，那么我們務(wù)必要把這個(gè)差異的來(lái)源分析給客戶(hù)，我們?cè)诜治鲋笆紫纫o客戶(hù)解說(shuō)測(cè)試的基本原理，告知此儀器為對(duì)比分析測(cè)試儀器，然后再談?wù)`差來(lái)源，主要來(lái)源：

  1、標(biāo)樣：對(duì)比分析儀器是要求有越接近于需測(cè)試樣品的標(biāo)樣，測(cè)試結(jié)果越接近實(shí)際厚度。確認(rèn)雙方有沒(méi)有在標(biāo)定和校正時(shí)使用標(biāo)樣？使用的是多少厚度的標(biāo)樣？

2、樣品材料的詳細(xì)信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學(xué)Ni測(cè)試，一家是按純Ni測(cè)試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。

   3、測(cè)量位置、面積：確定在同一樣品上測(cè)試的是否同一位置，因?yàn)闃悠吩陔婂儠r(shí)因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認(rèn)兩款儀器測(cè)量面積的大小有多少差異。

4、樣品形狀：測(cè)量的樣品是否是兩款儀器都可測(cè)量，或者放置位置是否合適，如突出面有無(wú)擋住設(shè)備接收。

江蘇一六儀器    我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。江蘇一六儀器X射線熒光鍍層測(cè)厚儀為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:1。

-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實(shí)時(shí)CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動(dòng)對(duì)焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置IBM計(jì)算機(jī):1.6G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅(qū)，40G硬盤(pán)，CD-ROM，鼠標(biāo)，鍵盤(pán)，17寸彩顯，56K調(diào)制解調(diào)器。惠普或愛(ài)普生彩色噴墨打印機(jī)。

8分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺(tái)中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包

      江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng)：

測(cè)厚儀操作時(shí)候需要注意的：

技術(shù)指標(biāo)：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm

5測(cè)量時(shí)間：5s-300s

6 計(jì)數(shù)率：0-8000cps

測(cè)厚儀操作流程

打開(kāi)儀器開(kāi)關(guān)----在電腦上開(kāi)啟軟件-------開(kāi)高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測(cè)試樣品----出報(bào)告

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:

1.打開(kāi)儀器電源 開(kāi)關(guān)

2.打開(kāi)測(cè)試軟件

3.聯(lián)機(jī)

4.打開(kāi)儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機(jī)30分鐘

6.打開(kāi)測(cè)試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag，通過(guò)調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)滑軌和焦距旋鈕使軟件測(cè)試畫(huà)面清晰

7.點(diǎn)擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作

8.根據(jù)已知樣品信息新建（或選擇）合適的產(chǎn)品程式

9.點(diǎn)擊資料圖標(biāo)，根據(jù)客戶(hù)需求調(diào)整相關(guān)測(cè)量參數(shù)

10.放置樣品：打開(kāi)測(cè)試腔，將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗，邊觀察軟件測(cè)試畫(huà)面邊通過(guò)移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置

進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置

11.調(diào)整焦距：使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕，使得軟件測(cè)試畫(huà)面盡可能清晰

12.開(kāi)始測(cè)量：點(diǎn)擊開(kāi)始測(cè)試圖標(biāo)，進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試

13.數(shù)據(jù)報(bào)告：對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比和分析，判斷數(shù)據(jù)是否正常，若出現(xiàn)異常可進(jìn)行多次測(cè)量排除偶然誤差

14.生成報(bào)告：點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對(duì)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整，還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告

15.整理反饋：對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和整理，可通過(guò)給出測(cè)試報(bào)告的形式與客戶(hù)進(jìn)行溝通和反饋