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游標卡尺的基本發展過程

游標卡尺的基本發展過程如下：

現代測量價值的游標卡尺一般認為是由法國人約尼爾·比爾發明的。他是一名數學家，在他的專著《新四分圓的結構、利用及特性》中記述了游標卡尺的結構和原理，而他的名字Vernier變成了英文的游標一詞沿用至今。1851年由美國Brown & Sharpe 公司將Nonuth 及 Vernier 兩個構想制造出支游標卡尺，后由德國Masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標卡尺。1856年日本也普及了游標卡尺，游標卡尺的制造技術逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長度。19世紀中葉，美國機械工業快速發展，美國夏普機械有限公司創始人與1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游標卡尺，其精度達到了0.001毫米。

外徑千分尺外觀的修理

首先用航空對外徑千分尺進行清洗，清洗時要將測力裝置向上，避免污物隨流入測微螺桿。清洗干凈后觀察其外觀情況，千分尺及其校對用的量桿不應有碰傷、銹蝕、帶磁或其他缺陷，刻線清晰、均勻。如果非工作面有銹蝕，可用金相砂紙去除。如果帶磁可用量具退磁器退磁。固定套管與微分筒的刻線模糊可用黑漆進行修復。

當弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直

當碰撞或跌落造成弓形架變形而引起平行度超差時(判斷的方法是工作面的表面粗糙度、平面度很好，但用四個平行平晶檢平行度時四次的平行度都大大超差)，再用一般方法修復平行度就很費時力了。我們知道，平行度合格的外徑千分尺其兩工作面均與測桿軸線垂直，當弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直，但固定測砧的工作面則與測桿軸線不垂直了。因此，快速修復的途徑有兩種，種是用敲擊法(上下變形)或臺鉗(左右變形)校正變形的弓形架；第二種是調整固定測砧的位置，使其工作面與測桿軸線垂直。方法是固定測砧打出來，然后用圓銼把與其配合的孔略銼大些，使固定測砧能在孔內上下左右進行徑向偏擺調整，用任一平行平晶進行平行度檢定，用手在徑向調整固定測砧位置，通過平行平晶觀察兩工作面的平行度，待調整至平行度合格后用膠水固定測砧即可。用本方法一般都能使平行度修復至2 微米以內。如果由于用膠水固定時位置發生輕微變化導致平行度略微超差，則可將研磨器與測微螺桿工作面接觸的一面涂上潤滑油，只在與固定測砧面接觸的一面涂研磨劑進行研磨就可以很快修復。