天津色差儀售價性價比出眾「在線咨詢」

天津永利達試驗機有限公司主要針對油漆，涂料等行業， 為客戶提供生產,研發所需的精密檢測儀器。多年來企業榮獲了多項行業榮譽并取得屬于自己專利的產品達50多種，

測量精度影響因素及相關說明：1、基體金屬磁性 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響 ，為了防止解決及冷加工因素的影響，應運用與試件基體金屬具備一樣性質的標準片對儀器實行校準。亦可用待涂覆試件實行校準。2、基板金屬厚度每臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此厚度時，測量不受基體金屬厚度的影響。3、邊緣效應儀對試件外表面形狀的陡變敏感。因而在靠近試件邊緣或內轉角處實行測量是不可靠的。4、曲率試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加明顯地增大。5、外表面粗糙度基體金屬和籠罩層的外表面粗糙水平對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙外表面會致使系統誤差和偶爾誤差，每次測量時，在不同地方上應減少測量的次數，以克制這種偶然誤差。6、各種電氣設施在磁場四周發生的強磁場會重大煩擾鍍鋅層測厚儀使用。7、附著物質 對那些障礙測頭與籠罩層外表面嚴密接觸的附著物質敏感，因而，必需清除附著物質，以保障儀器測頭和被測試件外表面直接接觸。

常規涂層測厚儀的原理

用于表面保護和裝飾材料（例如涂層，鍍層，涂層，覆蓋層，化學生成的薄膜等）的覆蓋層在相關的國家和國際標準中稱為涂層。 漆膜測厚儀

涂層厚度的測量已成為加工行業和表面工程質量檢查的重要組成部分，并且是產品達到質量標準的必不可少的手段。 為了使產品國際化，中國的出口商品和涉外項目對涂層的厚度有明確的要求。

涂層厚度的測量方法有：楔形切割法，光攔截法，電解法，厚度差測量法，稱量法，X射線熒光法，β射線背散射法，電容法，磁法和渦流法， 等。前五個方法是破壞性測試。 測量方法麻煩且緩慢，并且適合于抽樣檢查。

X射線和β射線方法是非接觸式和非破壞性的測量，但是設備復雜且昂貴，并且測量范圍小。 由于存在源，用戶必須遵守防規。  X射線法可以測量極薄的涂層，雙層涂層和合金涂層。  β射線法適用于原子序數大于3的涂層和基材的測量。電容法僅在測量薄導體絕緣涂層的厚度時使用。

隨著技術的進步，特別是近年來引入微計算機技術之后，使用磁和渦流方法的厚度計已經朝著小型化，智能化，多功能，和實用性邁出了一步。 測量分辨率達到0.1微米，精度可以達到1％，大大提高了。 它具有廣泛的應用范圍，測量范圍廣，操作簡便，成本低廉，是工業和科學研究中使用廣泛的厚度測量儀器。

來測量涂層厚度。 因此，必須影響被測基板的電磁物理特性和物理尺寸。磁通量和渦流的大小。 這影響了測量值的可靠性，將介紹以下問題。 1.邊界距離如果探頭與被測物體的邊界，孔眼，空腔和其他橫截面之間的距離小于的邊界間隙，則測量誤差將由磁通量不足或渦流載流子橫截面引起 。 如果此時需要測量涂層厚度，則只能通過在相同條件下預先在未涂層表面上對其進行校準來進行測量。  （注：產品通過疊加校準具有獨特的功能，可以達到3％到10％的精度） 2.在直線比較樣品上將基材的表面曲率校準為初始值，然后在測量涂層厚度后減去初始值。 或參考下一篇文章。 3.賤金屬的厚度賤金屬必須具有給定的厚度，以便探頭的電磁場可以完全包含在賤金屬中。 厚度與測量設備的性能以及金屬基底的特性有關。 進行測量而不校正測量值。 對于襯底厚度不足的影響，可以采取措施將相同材料的一塊緊密粘附在襯底下面以消除它。 如果難以確定或無法添加基材，則可以通過與已知涂層厚度的樣品進行比較來確定與額定值的差。 并在測量中考慮到這一點，并對測量值進行相應的校正或參考第2條進行校正。 那些可以校準的儀器可以通過調節旋鈕或按鈕來獲得準確的直接讀數厚度值。 相反，如上所述，可以利用厚度過小的影響來開發用于直接測量銅箔的厚度的厚度計。