MCPD光學(xué)膜測試常用解決方案,蘇州大塚電子

保證測厚儀質(zhì)量的方法：

要保證設(shè)備的質(zhì)量，不僅要保證設(shè)備的質(zhì)量，而且要注意使用時的操作標(biāo)準(zhǔn)。專業(yè)用戶必須保證操作的準(zhǔn)確性。在操作過程中，要注意儀器的及時保養(yǎng)。

分光光譜儀種類量測波長范圍MCPD-9800：高動態(tài)范圍型360~1100 nmMCPD-3700：紫外/可視/近紅外光型220~1000 nmMCPD-7700：高感度型220~1100 nm

平面顯示器模組量測平面顯示器(FPD)模組、液晶顯示器(LCD)模組、電漿顯示器(PDP)模組、CRT顯示器、OLED面板

影響膜厚測量儀的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對測量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對測量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測量彎曲試樣的表面是不可靠的。