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發(fā)布時間：2021-08-20 15:22
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ICP光譜儀原理是什么？
ICP光譜儀又稱分析儀，廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫，散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現的偏差別進行的校正，一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正，校正后所得數據即為對光譜彼進行校正的校正數據。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理：
根據現代ICP光譜儀器的工作原理，ICP光譜儀可以分為兩大類：經典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調制原理上的儀器。經典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調制ICP光譜儀是非空間分析的，它采用圓孔進光。特別注意是，有的儀器干燥管安裝在隱蔽地方，操作不宜觀察和操作，對于這種ICP光譜儀，操作者應該請儀器制造廠家人員來操作。根據色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學多道分析儀OMA是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。ICP光譜儀的使用或管理人員不明白電子常識，不了解儀器構造，不要容易去動，避免發(fā)生意外，除塵應事前停機并關掉供電電源下進行。
ICP光源觀察方式
水平觀察：又稱為軸向觀察或端視觀測，是采用水平放置的ICP光譜儀炬管，“火焰”氣流方向與采光光路方向呈水平重合;可使整個火焰?zhèn)€個部分的光都全部通過狹縫。水平觀察方式的優(yōu)點是：由于整個“火焰”各個部分的光都可以被采集導致靈敏度高，對簡單樣品有較好的檢出限;其缺點：基體效應和電離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而沾污，需要及時清洗和維護，RF功率設置不能一般不超過1350W;使用于光譜儀水質分析中。ICP光譜儀制樣中灰化分解法是指在高溫電阻爐中，加熱試料至(400~550）℃，使試料灰化后，再用酸溶解法。
ICP光譜儀是什么構成的？
一臺典型的ICP光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。
2. 準直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐手痹梢允且华毩⒌耐哥R、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。
5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
