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發布時間:2021-10-08 13:14  
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半導體封裝測試是指檢測不良芯片,確保交付芯片的完好。可分為兩階段,一是進入封裝之前的晶圓測試,主要測試電性;另一則為IC成品測試。封裝測試設備行業客戶訴求;行業的客戶之直采用1臺PC-baseD 多組PLC作為該行業應用架構,一臺負責機器視覺檢測系統,另外多組PLC負責所有運動控制系統。集成在一塊半導體單晶片上,從而完成特定的電路或者系統功能。

它的不足之處是芯片得不到足夠的保護。設計難度編輯表面貼片封裝是從引腳直插式封裝發展而來的,主要優點是降低了PCB電路板設計的難度,同時它也大大降低了其本身的尺寸大小。用這種方法焊上去的芯片,如果不用工具是很難拆卸下來的。表面貼片封裝根據引腳所處的位置可分為:Single-ended(引腳在一面)、Dual(引腳在兩邊)、Quad(引腳在四邊)、Bottom(引腳在下面)、BGA(引腳排成矩陣結構)及其他。
半導體生產流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。也可稱為終段測試FinalTest。在此之前,由于封裝成本較高整片晶元還必須經過針測ProbeTest。WLCSP此封裝不同于傳統的先切割晶圓,再組裝測試的做法,而是先在整片晶圓上進行封裝和測試,然后再切割。半導體器件有許多封裝形式,按封裝的外形、尺寸、結構分類可分為引腳插入型、表面貼裝型和封裝三類。
