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發布時間：2021-01-21 04:52
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江蘇一六儀器 X射線熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
測厚儀
測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。
一六儀器 國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀
一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
涂層測厚儀操作規程有哪些
我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：
一、技術參數
采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
測量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測頭），F10測頭可達10mm；
分辨率：0.1μm（F1、N1測頭）
示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測涂層厚度
顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
存儲容量：可存儲20組（每組多50個測量數值）測量數據
單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉換 ? 工作電壓：3V（2節5號堿性電池）
持續工作時間：大于200小時（不開背光燈）
通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊
一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀
率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
精密微型滑軌：快速精準定位樣品。
EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
測厚儀和膜厚儀一樣嗎
測厚儀的原理：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發射超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
膜厚儀：屬于測厚儀的一種，膜厚儀測量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂層測厚儀，為磁阻法和電渦流原理，臺式的不同原理也有好多種，電感原理等。
