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2#TRU故障,導致TR2跳開關跳出,對于裝在2號位置的不同

這一故障反映的主要現(xiàn)象是2#TRU故障，導致TR2跳開關跳出，對于裝在2號位置的不同序列號TRU頻繁燒壞，基本可以排除TRU本身質(zhì)量問題導致的損壞,所以２號TRU損壞的原因有兩種：1. ＴＲＵ輸出端短路或負載過大，如果是這種情況，由28V DC BUS-2供電的用電系統(tǒng)在ＴＲＵ燒壞之前就會有故障出現(xiàn)，且每一個負載都有各自的保護跳開關會提前跳出，所以可以初步排除這一種情況。2. ＴＲＵ的輸入端初級繞組由３相１１５Ｖ交流電供電，初級繞阻的三相電其中一相繞組供電異常，供電線接觸不好或虛接斷路，導致這一相繞組供電能力降低，由于負載不變，所以加大了其他兩相繞組的負荷，大負荷導致繞組過熱，繞組絕緣層老化燒穿造成匝間短路和跳開關跳出。

TRU初級繞組對中性點阻值及電感值發(fā)現(xiàn)

通過檢查測量損壞的TRU初級繞組對中性點阻值及電感值發(fā)現(xiàn)（圖1中A、B、C插釘對E電阻及電感），AE阻值為0.001歐姆，電感8μH；BE阻值為0.025歐姆，電感14.5MH；CE阻值為0.009歐姆，電感2MH。AE、CE阻值及電感值與BE相差巨大，判斷為TRU的初級繞組AE的繞阻絕緣層燒壞導致繞組匝間短路，所以跳開關跳出，說明AE長時間工作在高負荷狀態(tài)中（CE其實也一樣，只不過AE先損壞而已），而BE應該負載不大，跟之前發(fā)現(xiàn)的三相電源B相電壓不穩(wěn)的故障缺陷一致。

電子行業(yè)飛速發(fā)展,對測試儀器和測試工程師的要求也不斷提高

電子行業(yè)飛速發(fā)展，對測試儀器和測試工程師的要求也不斷提高。當前IC設計中超過20%的人員為測試工程師，不同的測試工程師有不同的測試習慣，不同測試場景有不同的測試需求，各類被測器件(DUT)亦有不同的測試特性。在滿足測試環(huán)境多樣性的同時提高測試效率，成為測試儀器的必然發(fā)展趨勢。NGI結合多年電子電路和儀器電源開發(fā)設計經(jīng)驗，為這些高壓測試場景開發(fā)N3200系列高壓可編程直流電源。N3200系列有高達10kV電壓輸出，其電壓/電流分辨率達0.1V/0.1μA。2U?19’的機箱，既可支撐桌面應用，又有便捷的上架特性，方便系統(tǒng)集成，高清4.3’LCD顯示屏可顯示豐富的測試測量信息。