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              光譜分析儀信賴推薦

              發布時間:2020-07-23 20:17  

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              一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

              元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

              一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

              用轉移法測量塑膠產品上涂層時注意事項:

              由于對塑膠產品上涂層的測量,如使用超聲波發測量時,經常因涂層與基材發生相溶而沒有較好的聲波反射面,從而導致測量失敗或讀值嚴重偏差。如使用切鍥法,也多有使用不方便和讀數困難的地方。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。所以目前便攜式電子產品生產廠普遍使用轉移法測量塑膠產品上涂層,先在產品上蓋若干小條標準厚度的聚酯薄膜,再用紙基美紋膠壓住兩頭,留出中間部分。將該產品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。

              鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結構油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。

              鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。

              鍍層厚度分析儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

              X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

              隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發射特性,通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度,然后通過軟件達到對儀器的校正。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。


                    江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

                     X熒光涂鍍層測厚儀測試原理

              同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα 射線,同樣還可以產生Kβ射線 ,L系射線等。開始測量:點擊開始測試圖標,進行樣品測試或者按動儀器前面板測試按鈕進行樣品測試13。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數,因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。


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