大功率IGBT測試儀廠家常用解決方案「華科智源」

測量目的：對模塊的電壓降參數進行檢測, 可判斷模塊是否處于正常狀態。 功率模塊的VCE-IC特性曲線會隨著器件使用年限的增加而變化，飽和壓降Vcesat會逐漸劣化。因此，定期檢測可預防發現功率模塊故障。且變流器由多個模塊組成，由于個體差異，大電流情況下的參數也會存在個體差異。因此，測量大電流情況下的各個模塊實際技術參數，進行跟蹤管理，可有效保障機車中間直流環節可靠運行。IGBT模塊VCE-IC特線（單管），Vcesat隨電流變大而增大。 IGBT模塊VCE-IC特線（單管），Vcesat隨電流變大而增大。

什么是大功率半導體元件？其用途為何？

凡是半導體元件如金屬氧化場效晶體管(MOSFET)、IGBT(INSULATED GATE B.TRANSISTOR)及TRIAC（可控硅）、SCR（晶閘管）、 GTO等各型閘流體與二極管(DI ODE)等，其工作電流與電壓乘積若大于1KW以上，均可屬于大功率的范圍。如下圖片所示。此類元件多用于車船，工廠的動力，光電及其他能源的轉換上。可生成器件的I-V特性曲線，曲線上測試點數據可以導出到EXCEL表格。

11）動態測試續流二極管

用于防止測試過程中的過電壓。

?壓降小于1V

?浪涌電流大于20kA

?反向恢復時間小于2μs

?工作溫度 室溫～40℃

?工作濕度 <70%

12）安全工作區測試續流二極管

?浪涌電流 大于20kA

?反向恢復時間 小于2μS

?工作濕度 <70%

13）被測器件旁路開關

被測安全接地開關，設備不運行時，被測接地。

?電流能力 DC 50A

?隔離耐壓 15kV

?響應時間 150ms

?工作方式 氣動控制

?工作氣壓 0.4MPa

?工作濕度 <70%

開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設定±VGG到測試要求值，計算機控制接通開關S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發信號，開通和關斷被測器件兩次，被測器件次開通后，集電極電流IC上升，直至被測器件飽和導通且IC達到測試規定值時，關斷被測器件(設為t1時刻)，之后電感L經二極管（Q1內部二極管）續流，IC迅速減小，直至IC降為零時，第二次開通被測器件(設為t2時刻)，此后電感L中的電流向IC轉移，IC迅速上升(若L足夠大，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），直至被測器件再次達到飽和導通時(設為t3時刻)，關斷被測器件。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導通波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機，由計算機對測試波形進行分析與計算，后顯示測試結果。機車、汽車、船舶控制系統生產廠——應用本公司測試系統可對所應用到的元器件，尤其對。