不分光紅外氣體分析儀廠家來電咨詢“本信息長期有效”

在校準紅外線氣體分析儀之前有哪些需要準備的?

校準變送器的設備：標準零點氣體、標準量程氣體、數字校準儀或萬用表。

1、外觀檢查

1.包括銘牌、標志、外殼等;

2.外觀應整潔，零件完整無缺，銘牌、標志齊全清楚;

3.檢查紅外線氣體分析儀樣氣接頭有無松動、氣管有無老化漏氣現象。

2、內部檢查

1.包括電路板、接線端子、表內接線、線號、引出線等;

2.內部應清潔，電路板及端子固定螺絲齊全牢固，電源線及信號線接線正確，編號齊全清楚，引出線無破損、劃痕。

3、紅外線氣體分析儀密封性檢查

1.將紅外線氣體分析儀氣體出口管接一U型管水柱，在入口端通入100mmH2O壓力的氣體，并將導管夾死;

2.4min平衡時間之后，出口端壓降每5min應不大于0.5mmH20，則說明分析儀無泄漏。

4、絕緣性能檢查

1.用兆歐表檢查輸出端子對外殼電阻、測量回路對地電阻。

2.輸出端子對外殼電阻≥10MΩ，測量回路對地絕緣電阻 ≥20MΩ。

紅外線氣體分析儀工作原理：

紅外線氣體分析儀屬于不分光式紅外線氣體分析器，其工作原理是基于某些氣體對紅外線的選擇性吸收。儀器采用單光源、單管隔半氣室及先進的檢測器，工藝精湛、分析精度高、穩定性好。采用先進的數字處理技術，全新的液晶顯示畫面。

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紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產狀態的變化，預處理運行的變化，環境溫度、壓力的變化，都會使進入分析儀中的氣樣的含水量發生變化。水分在 1~9μm波長范圍內幾乎有連續的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預處理系統中除水脫濕，降低氣樣的露點。常用的辦法是采用帶溫控系統的冷卻器降溫除水。

氣體分析儀　　

測量氣體成分的流程分析儀表。在很多生產過程中，特別是在存在化學反應的生產過程中，僅僅根據溫度、壓力、流量等物理參數進行自動控制常常是不夠的。例如，在合成氨生產中，僅控制合成塔的溫度、壓力、流量并不能保證較高的合成率，必須同時分析進氣的化學成分，控制氫氣和氮氣的很好的比例，才能獲得較高的生產率。