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低本底測(cè)量

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低本底是指再被測(cè)放射性樣品中，除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測(cè)器中產(chǎn)生的信號(hào)。低本底測(cè)量是指在低本底條件下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測(cè)器。

低本底探測(cè)器往往選用放射性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過純化的材料制作探測(cè)器及整個(gè)裝置。除α探測(cè)器外，低本底探測(cè)器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。而為了保證不讓成為“輻射源'人再接受更多的輻射，并保證周圍人的安全，一般來說會(huì)對(duì)其進(jìn)行隔離治理。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對(duì)探測(cè)器和測(cè)量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場(chǎng)的干擾等因素引進(jìn)的本底計(jì)數(shù)。

低本底的測(cè)量方式

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1、可以同時(shí)測(cè)量αβ，也可單獨(dú)測(cè)α或β；

2、測(cè)量過程和測(cè)量結(jié)果可在顯示器上顯示，并可打印結(jié)果；

3、測(cè)量時(shí)間、探測(cè)器的α閾值、β低閾(βL)、β高閾(βH)和高壓都可根據(jù)要求，通過計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)。

低本底環(huán)境γ譜儀簡(jiǎn)介

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BH1324F型低本底環(huán)境γ譜儀主要競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手涉及主要從事生產(chǎn)輻射儀器儀表的國外企業(yè)和國內(nèi)私營企業(yè)，例如：美國Mirion Technologies(子品牌 Canberra)、美國Ametek(子品牌 ORTEC)、湖北方圓環(huán)保科技有限公司、北京高能科迪科技有限公司，整體市場(chǎng)占有率超過95%。儀器經(jīng)國家計(jì)量單位嚴(yán)格檢定，全部性能指標(biāo)均達(dá)到國家規(guī)定的Ⅱ級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，儀器出廠時(shí)附帶計(jì)量檢定證書。目前測(cè)量方法相對(duì)成熟，近年測(cè)量方法上沒有更新，沒有新測(cè)量方法產(chǎn)品上市，各公司也是針對(duì)操作平臺(tái)進(jìn)行更新改進(jìn)。