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發布時間:2020-12-28 09:22  
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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
膜厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕i對反射率進行測量,可進行高i精度膜厚度/光學常數分析。
可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上,能達到1秒/點的高速測量,并且搭載了即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學常數的軟件
膜厚儀如何系統校準?
校準的方法、種類,這是新用戶經常會遇到的問題。系統校準、零點校準還有兩點校準其實都已經在說明書上寫到了,用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是:在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。
膜厚儀直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM),此法可以直接驅動蒸發祥,通過PID控制循環驅動擋板,保持蒸發速率。只有將儀器與系統控制軟件相連接,它就可能節制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的,部分起因是由于它監控的是被鍍膜的質量而不是其光學厚度。