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發(fā)布時(shí)間：2021-01-17 17:02
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EMC測(cè)試方案
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EMC測(cè)試又叫做電磁兼容（EMC），指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大小（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。EMC測(cè)試目的是檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共場(chǎng)所電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
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電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目
傳導(dǎo)conduction emission （9kHz-30MHz）
功率輻射power clamp （30MHz-300MHz）
磁場(chǎng)輻射magnetic emission（9kHz-30MHz）
空間輻射radiated emission（30MHz-18GHz）
斷續(xù)傳導(dǎo)干擾click諧波harmonics class a,b ,c,d
電壓閃爍flicker plt .pst
靜電ESD （±0.1-±16.5kV）
輻射抗擾度（1GHz以下）
快速脈沖群EFT/B （±0.1-±4.4kV）
浪涌surge （0.1-6.6kV）
傳導(dǎo)抗擾度CS（0.1-30V）
抗磁場(chǎng)干擾MS（0-120A/m）
斷電Dips（0%-100%）
振蕩波浪涌 Oscillatory Waves Surge 0.1-6.6kV 波形100kHz
諧波、諧間波抗干擾 Harmonic、interharmonic immunity
磁場(chǎng)EFM 10Hz-400kHz （EN50366）
EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試
EMI測(cè)試主要內(nèi)容：
Radiated Emission －輻射騷擾測(cè)試
Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試
Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試
Flicker－電壓變化和閃爍測(cè)試
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