您好,歡迎來到易龍商務網!
發布時間:2020-10-13 19:44  
【廣告】






一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
測試面積是測厚儀器的一項很重要的參數,主要由準直器控制組成,但也受其它條件限制:
1、受高壓、光管限制,因為需要這兩裝置提供足夠熒光強度和聚焦。
2、受儀器結構限制,相同的準直器因安裝的位置及與探測器的角度都影響測量面積,同樣是直徑0.2mm準直器Thick800A測量面積達到直徑0.4mm,EDX1800B測量面積達到直徑0.5mm,CMI900測量面積達到0.3mm,而XTU-A面積可以達到0.218.

江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系!
1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器,程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀
電鍍液測量杯整套含兩個測量杯,可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用,高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯,嚴格控制了容量和溢出物的處理,用來測試溶液中金屬離子的濃度;使用方便簡捷,無污染。
測試膜,又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測膜,光譜儀樣品薄膜;是應用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內的物質。EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用1.一般要求使用可靠的參考標準塊校準儀器。專用樣品薄膜是使用方便簡捷,無污染的測試用樣品薄膜,廣泛應用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術參數
X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管
準直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 準直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴散度:9%
測量距離:具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數:光學38-46X,數字放大40-200倍
隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱

