達林頓晶體管陣列驅動公司承諾守信,生產電子驅動ic廠家

數字IC測試儀的研究

隨著集成電路技術的飛速發展,集成電路的測試技術已成為集成電路產業發展重要支撐之一,也是保證集成電路性能、質量的關鍵手段之一。如果必要在自動放置標準單元和宏單元之后，你可以先做一次PNA(powernetworkanalysis）--IRdropandEM。目前,集成電路測試儀一般價格比較高,但在電子實驗室的實驗中經常需要測試中、小規模數字IC好壞,數字集成電路的測試又是一項經常性的工作,所以,自己設計一臺經濟實用的集成電路測試儀是非常必要的。 

研究了國內外集成電路測試技術,提出了基于單片機系統的數字IC測試儀的設計,設計包括硬件系統設計和軟件系統設計。的重點是硬件系統電路設計。常見的失效模式包括塑料從芯片或引腳框上的內部分離(脫層)、金線焊接損傷、芯片損傷、和不會延伸到元件表面的內部裂紋等。設計包括AT89C52單片機的選擇,可編程I/O接口,電源系統、鍵盤、復位電路,LED顯示接口CH451,計算機與單片機串行通信接口MAX232,測試插座接口,上位計算機等。硬件系統各功能單元電路的設計全部采用模塊化,每部分電路的選擇都經過比較和優化設計,便于以后硬件的升級。 針對單片機電源電路帶負載能力的擴流和測試插座接口電路的設計及數字IC測試向量編碼方法等方面進行了改進,提高了硬件系統的可靠性,簡化了軟件編程,并借助EDA技術進行了驗證。

大功率模擬集成電路

隨著集成電路產業快速發展,集成電路的集成度越來越高,內部結構也越來越復雜,對于測試的要求也越來越高。集成電路測試技術作為保障集成電路性能、質量的重要技術之一也得到了很快的發展。所以說質量（Quality）解決的是現階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。直流參數測試是集成電路測試技術的重要組成部分,能夠快速有效的檢測芯片的性能,受到集成電路測試行業的高度重視。實現了一種大功率直流參數測試的研制,可以實現高電壓、大電流的直流參數測試,具有很高的測試精度,而且具有一定的通用性。 

首先根據文獻資料分析本課題研究的背景以及意義,介紹了集成電路測試系統組成、分類以及國內外的發展狀況。實際上國外經常使用裝備有射頻標簽的濕度跟蹤系統、局部控制單元和專用軟件來顯示封裝、測試流水線、運輸/操作及組裝操作中的濕度控制。介紹了集成電路直流參數測試的基本原理與方法,在此基礎上分析了大功率模擬集成電路直流參數測試的設計需求,提出了設計需要實現的功能與設計指標,構建了大功率模擬集成電路直流參數測試實現的原理方案;設計了接口控制模塊、邏輯控制模塊與精密測量單元,詳細分析了精密測量單元的工作原理,并搭建了具體的硬件電路;根據硬件所需要實現的測試功能,設計了測試底層驅動函數,提供給應用軟件測試函數接口實現可編程測試,并對測試進行了軟件校正;后文章給出了功能測試數據與報告,分析了集成運算放大器的測試原理和方法,并給出了測試過程與測試數據,表明測試性能達到了比較好的效果。設計的大功率模擬直流參數測試模塊,已經被廣東某集成電路制造企業使用,使用效果表明測試模塊性能穩定,通用性強,成本低,特別適合國內集成電路企業的應用,具有比較高的實用價值。          

數字IC管腳狀態

根據CMOS數字IC管腳間的等效結構,給出了無偏置時任意兩管腳之間的電壓;其次,探討了地開路時的輸出管腳的狀態;然后,提取了電源浮空時的等效電路;后,利用所提取的等效電路,對二極管結構電源浮空電位和浮阱結構電源浮空電位進行了計算。

深圳瑞泰威科技有限公司是國內IC電子元器件的代理銷售企業，專業從事各類驅動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。標準型模擬IC包括放大器，電壓調節與參考對比，信號界面，數據轉換，比較器等產品。與國內外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準等均穩定合作，保證產品的品質和穩定供貨。自公司成立以來，飛速發展，產品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業。

數字集成電路電流測試

集成電路(IC)被生產出來以后要進行測試。IC測試貫穿在IC設計、制造、封裝及應用的全過程,被認為是IC產業的4個分支(設計、制造、封裝與測試)中一個極為重要的組成部分,它已經成為IC產業發展中的一個瓶頸。其中北橋芯片起著主導性的作用，也稱為主橋(HostBridge)。有人預計,到2012年,可能會有多達48%的好芯片不能通過測試,IC測試所需的費用將在IC設計、制造、封裝和測試的總費用中占80%～90%的比例。 工業界常采用電壓測試和穩態電流(I_(DDQ))測試來測試數字CMOS IC。

電壓測試包括邏輯測試和時延測試兩方面的測試內容,前者驗證IC的功能是否正確,后者驗證IC的時間特性是否正確。電壓測試方法可以檢測出大量的物理缺陷,而且比較簡單,速度較快。芯片組的識別也非常容易，以Intel440BX芯片組為例，它的北橋芯片是Intel82443BX芯片，通常在主板上靠近CPU插槽的位置，由于芯片的發熱量較高，在這塊芯片上裝有散熱片。但是,由于電壓測試所使用的故障模型存在局限性,而且測試常常不能全速進行,因此一般來說,電壓測試只善于驗證電路的功能。與電壓測試相比,(I_(DDQ))測試更善于檢測由于生產過程中的細微偏差而導致的一些“小”缺陷,它的優點是能大幅度地降低測試數字CMOS IC的費用,提高它們的可靠性。但是,(I_(DDQ))測試除不能檢測那些不導致(I_(DDQ))增加的缺陷或故障(如串擾故障)之外,還受到深亞微米技術的挑戰。

 瞬態電流(I_(DDT))測試是一種從供電回路,通過觀察被測電路所吸取的瞬間動態電流來檢測故障的一種方法,被認為可以檢測出一些經電壓測試和(I_(DDQ))測試所不能檢測的故障。這種方法作為傳統的電壓測試和(I_(DDQ))測試方法的一個補充,正逐漸受到研究領域和工業界的關注。在其中集成的ModuleCompiler數據通路綜合技術，DCUltra利用同樣的VHDL/Verilog流程，能夠創造處又快又小的電路。 (I_(DDT))測試研究雖然進行了近10年的時間,但目前仍處在初級階段,所面臨的問題很多,離實際應用還有相當一段距離。本研究采用基于積分的平均電流分析法來研究(I_(DDT))測試,進行了一些有益的探索性工作。