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低本底測(cè)量

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低本底是指再被測(cè)放射性樣品中，除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測(cè)器中產(chǎn)生的信號(hào)。低本底測(cè)量是指在低本底條件下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測(cè)器。

低本底探測(cè)器往往選用放射性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過(guò)純化的材料制作探測(cè)器及整個(gè)裝置。除α探測(cè)器外，低本底探測(cè)器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。5×10-2s-1/（Bq·g-1）[對(duì)于241Am粉末源（10。對(duì)探測(cè)器和測(cè)量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場(chǎng)的干擾等因素引進(jìn)的本底計(jì)數(shù)。

低本底測(cè)量?jī)x主要技術(shù)指標(biāo)

主要技術(shù)指標(biāo)

儀器對(duì)于90Sr-90Yβ源（活性區(qū)Φ20mm）的2π探測(cè)效率比≥50％時(shí)， 本底≤0.15cm-2min-1；

儀器對(duì)于241Amα源（活性區(qū)Φ25mm）的2π探測(cè)效率比≥80％時(shí)， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α進(jìn)入β道的計(jì)數(shù)比＜3％（對(duì)241Am）， β進(jìn)入α道的計(jì)數(shù)比＜0.5％（對(duì)于90Sr-90Y）；

長(zhǎng)期穩(wěn)定性

重復(fù)性：儀器連續(xù)通電8小時(shí)，探測(cè)效率變化＜±10％；

本底穩(wěn)定性：在8小時(shí)的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，本底計(jì)數(shù)變化應(yīng)在(Nb±3σ)的范圍內(nèi),其中Nb為本底計(jì)數(shù)的平均值，σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差。

儀器靈敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐壓絕緣度＞1500V；

絕緣電阻≥2MΩ；

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低本底α、β測(cè)量?jī)x的儀器特點(diǎn)

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1. 儀器分為單路、二路、四路三種配置，符合GB/T11682-2008國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求

2. 采用波形識(shí)別技術(shù)，較大幅度提高了α探測(cè)效率

3. 探測(cè)器采用α、β雙閃爍體，高靈敏，低本底，穩(wěn)定可靠

4. 同時(shí)測(cè)量α、β的總活度，亦可單獨(dú)測(cè)量α或β

5. 中文軟件界面，快速實(shí)時(shí)顯示各項(xiàng)檢測(cè)指標(biāo)，易操作、實(shí)用性強(qiáng)

低本底的性能介紹

低本底測(cè)量?jī)x有多獨(dú)立的主探測(cè)器，可同時(shí)測(cè)多個(gè)樣品，分別給出多個(gè)樣品中的總α、總β活度濃度測(cè)量。

儀器須經(jīng)國(guó)家計(jì)量部門嚴(yán)格檢定，全部性能指標(biāo)應(yīng)符合國(guó)家規(guī)定Ⅱ級(jí)以上標(biāo)準(zhǔn)的要求。每次可單獨(dú)測(cè)量一個(gè)樣品中α或β，或αβ同時(shí)測(cè)量。

探測(cè)器采用低噪聲光電倍增管和藍(lán)光塑閃組成，降低自吸收，大限度提升探測(cè)效率；不怕污染、表面可以擦洗、經(jīng)久耐用。

測(cè)量時(shí)間、探測(cè)器的閾值和高壓都可根據(jù)要求通過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)節(jié)，非機(jī)械旋鈕控制，減小操作誤差，降低實(shí)驗(yàn)人員工作量。

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