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發布時間：2020-12-28 16:50
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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點
1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數10S-1分鐘，分析精度高。
2.可測試超薄的鍍層。
3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對于樣品可進行連續多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。
6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區別
7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。
8.可以對樣品進行測試
9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發鍍層標樣
江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！
1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標準75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
江蘇一六儀器 專業涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。
單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足
GB/T 16921-2005 標準（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 鍍層層數：多至 5 層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測量時間：通常 30 秒。
5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。
6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
