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發布時間:2020-12-15 16:06  
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芯片檢測顯微鏡的應用特點
老上光儀器廠——專業芯片檢測顯微鏡供應商,我們為您帶來以下信息。
集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對芯片產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。
芯片檢測顯微鏡產品介紹
采用無限遠光路系統,配置了落射與透射照明系統、無限遠長距平場消色差物鏡、內置偏光觀察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀,操作方便等特點,能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察,尤其適合觀察金相試樣,電子芯片等樣品。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
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芯片檢測顯微鏡——廠家介紹
老上光儀器廠擁有一支專業從事顯微儀器應用技術研究,新產品新技術開發的工程技術團隊,在傳統光學顯微成像技術上融入了攝像計算機分析系統,不斷地開發出能滿足生物、科研教學、機械制造、電子材料、紡織纖維、地質礦產、石油化工、航空航天、計量科學、農林牧漁等幾乎所有應用領域進行研究分析的新產品和新技術。
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芯片檢測顯微鏡的設計理念
老上光儀器廠專業生產、銷售芯片檢測顯微鏡,以下信息由老上光儀器廠為您提供。
采用無限遠光學系統與模塊化功能設計理念,可以方便升級系統,實現偏光觀察、暗場觀察等功能,緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察,是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。