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發布時間:2021-10-23 05:55  
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氦質譜檢漏儀的主要配置
科儀產品主要有:薄膜制備設備,真空冶金設備,檢漏設備,真空系統等非標真空產品;例如:瑞士、日本采用改變分子泵轉速來達到此目的,且提高檢漏靈敏度。系列分子泵,離子泵,鈦升華泵,深冷捕集泵等高真空獲得設備;系列干式渦旋泵,干式爪泵,干式螺桿泵等無油真空獲得設備;超高真空環境模擬設備等高新技術產品。今天科儀的小編就和大家分享一下氦質譜檢漏儀的主要配置有哪些,希望對您有所幫助!
1. 檢漏儀專用分子泵
2. 機械泵或者干泵
3. 定制檢漏儀專用電磁閥
4. 內置標準漏口
5. 放大器
6. 采用質譜專用模塊
以上是科儀為您一起分享的內容,科儀專業生產氦檢漏,歡迎新老客戶蒞臨。
氦氣檢漏儀
氦氣檢漏儀是氦質譜檢漏儀((Helium Mass Spectrometer Leak Detector)的俗稱,運用質譜原理制成的儀器稱為質譜計或質譜儀。氦質譜檢漏儀能為不同的需求提供不同的測量方法氦質譜檢漏儀原理的氦質譜檢漏儀特點:1。質譜儀通過其核心部件質譜室,使不同質量的氣體變成離子并在某種場中運動后,不同質荷比的離子在場中彼此分開,而相同質荷比的離子在場中匯聚在一起,如果在適當位置安置接收1器接收所有這些離子,就會得到按照質荷比大小依次分開排列的質譜圖,這就是質譜。
用于檢漏的質譜儀稱為質譜檢漏儀。測量氣體分壓力的所有質譜計,如四極質譜計、射頻質譜計、飛行時間質譜計、回旋質譜計等都可以用于檢漏。
專門設計的以氦氣作示蹤氣體進行檢漏的質譜儀稱為氦質譜檢漏儀。這種儀器除靈敏度高外,還具有適應范圍廣、定位定量準確、無毒、安全、反應速度快等優點。氦質譜檢漏儀中用得較多的是90°和180°的磁偏轉型質譜儀。
眾所周知,當一個帶電質點(正離子)以速度v進入均勻磁場的分析器中,如果速度v的方向和磁場H的方向相垂直,則它的運動軌跡為圓,如圖1所示。③重復性測量重復性是用實驗標準偏差表征的,本校準方法采用極差法來表征重復性。當磁場的磁通密度一定時,不同質荷比(m/e)的離子在磁場中都有相應的運輸半徑,也就是都有相應的圓軌跡,這樣,不同質荷比的帶電粒子在磁場分析器中運動后就會彼此分開。如果在離大運動的路徑中安置一塊檔板將其他離子檔掉,而在對應的氦離子運動半徑位置的檔板上開一狹縫,狹縫后安置離子接收極,這樣的只有氦離子才能通過狹縫而被接收極接收形成氦離子流,并經放大器放大后由測量儀表指示出來。檢漏時,如果用氦氣噴吹漏孔,氦氣便通過漏孔進入檢漏儀的質譜室中,使檢漏儀的測量儀表立即靈敏地反應出來,達到了檢漏的目的。
氦質譜檢漏儀熱管檢漏
熱管
熱管 (Heat Pipe) 是利用熱傳導原理與致冷介質的快速熱傳遞性質,透過熱管將發熱物體的熱量迅速傳遞到熱源外,其導熱能力超過任何已知金屬的導熱能力。什么是氦質譜檢漏儀氦質譜檢漏儀品牌淺析什么是氦質譜檢漏儀氦質譜檢漏儀可靠的品質保證廣泛的市場應用,此款氦質譜檢漏儀適用于工業、分析研究、鍍膜市場等。熱管技術目前廣泛應用于計算機、各類電器等設備散熱,常見的形狀有圓管狀,板塊狀 (VC 單體) 等。
熱管需要檢漏原因:
熱管內部填充特殊液體用來增強熱傳導性能,如果熱管本身存在漏點,首先會影響熱管的導熱性能;其次由于熱管都是安裝在設備內部,如果發生泄漏,里面封裝的液體就會流出,嚴重污染和影響設備的正常運轉,所以熱管生產企業,都會采用 氦質譜檢漏儀對熱管進行檢漏。當被檢件密封面上存在漏孔時,示漏氣體氦氣及其它成分的氣體均會從漏孔泄出,泄漏出來的氣體進入氦質譜檢漏儀后,由于氦質譜檢漏儀的選擇性識別能力,僅給出氣體中的氦氣分壓力信號值。
熱管檢漏客戶案例:某電子股份公司,是世界 IT 產業 500 強之一,分公司及營業處遍及美國、日本、歐洲、蘇格蘭、新加坡等地,全球員工近 90000人。該企業是全球較大的電源供應器制造商,市場占有率達 25% 以上。
熱管檢漏方法:
該企業熱管出廠前標準漏率合格線是 E-8 mbarl/s,使用氦質譜檢漏儀檢漏時,設定 E-8 為報警值,當漏率低于該值時產品是合格的,當漏率高于此值,檢漏儀發出聲光警報,說明產品有漏。
熱管采用檢漏儀的真空檢漏模式,因為產品沒有抽真空的標準接口,上海伯東根據客戶實際情況定制真空夾具,一頭連接檢漏儀,一頭連接產品,具體做法如下:
1.啟動氦質譜檢漏儀,裝上夾具
2.將熱管插入夾具,并用真空封泥封堵
3.按下檢漏儀啟動鍵,開始抽真空
4.在產品周圍噴氦氣,以 E-8 mbarl/s 為合格線
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氦質譜檢漏儀的檢漏方式有那些
氦質譜檢漏儀的檢漏方式通常有兩種,一種為常規檢漏,另一種為逆擴散檢漏。
逆擴散檢漏是把被檢件接在分子泵出氣口一端,漏入的氦氣由分子泵出氣口逆著泵的排氣方向進入安裝在泵的進氣口端的質譜管內而被檢測。24×10-6,如果氦氣在環境中的含量超過標準,可以比較容易地探測到極微量的氦氣。這一檢漏方式是基于分子泵對不同質量的氣體具有不同壓縮比(氣體在分子泵出氣口壓強與進氣口壓強之比)即利用不同氣體的逆擴散程度不同程度而設計的。
氦質譜檢漏儀逆擴散原理
逆擴散方式檢漏允許被檢件內壓強較高,氦質譜檢漏儀可達1000Pa(一般常規檢漏儀為0.05Pa以下),適合檢大型容器或有大漏的器件,也適合吸槍檢漏。逆擴散方式還具有質譜管不易受污染,燈絲壽命長等優點。
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