漾YANG便攜式單波長X射線熒光光譜儀常用指南,浪聲儀器

磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

核心技術分析  

多層膜、膜成分、基材成分檢測。

下照式機頭光管及探測器，攝像頭的光路結構設計。

XYZ三維移動平臺的運動；

軟件實現圖像變形的修正及控制平臺的準確選點運動。

單點或多點矩陣檢測

目前此行業內標準樣品極為稀缺，華唯獨有的FP算法無需標準樣品標定，即可對樣品進行分析，幫助客戶徹底擺脫對標準樣品的高度依賴。

XRF在礦石領域的應用

隨著我國社會經濟的發展，我國礦業目前正處于轉型期，朝著生態環保、高質量發展、資源節約、技術創新是礦業的發展方向，這對礦產采選、冶煉、深加工等環節中對礦產品質檢測有了更嚴格的要求。

X射線熒光分析技術是一種快速、無損、度、可多元素同時測定的物質測量方法。適合于礦產主量、次量及微量成分分析具有簡便、快速的優點，這些特點使得該分析技術在許多領域都更加便攜且更具優勢。

TrueX 礦石分析儀能夠在很少或沒有樣本準備的情況下，在活動的各個階段，包含從基層勘探開發，到礦石品位控制，甚至環境調查等情況下，提供快速、準確的元素分析結果，與傳統的實驗室方法相比，樣品吞吐量高，樣品密度增加，省時省心又省力。