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發布時間:2021-02-09 08:00  





第二代儀器,采用的是“界面——回波”技術.
即,事先剔除脈沖信號從晶振片開始到被測物表面的時間;
這種技術的出現,其目的本來是為了剔除“晶振片到探頭保護膜的距離”給測厚帶來的誤差,事實上,這個“距離”,與要測的厚度通常不在一個數量級上,因此,其適用性只在一個很窄的范圍內才有意義。這種技術自本世紀初,在國外的儀器中開始有大量的應用,但作為一種“權宜之計”的過渡技術,很快被跨越,不到五年的時間,就讓出了它的“優越地位”。
第三代儀器,采用的是“回波——回波”技術。
即,以“次底面回波”和“第二次底面回波”的時間差為基礎來計算厚度;這種技術,與“界面——回波”技術有相同的地方,即,都不用考慮“晶振片到探頭保護膜的距離”帶來的測量誤差,但同樣,只在小范圍內才有適用意義。
這種技術得以應用,其更大意義在于:該技術改變了儀器的電路結構,使得儀器可以給換能器(探頭)更大的能量、并能更好地分檢回波信號,因此,應對“信號衰減”,采用這種技術的儀器比前兩代儀器有了質的提升;也因此,“回波—回波”,成了迄今為止先進超聲波測厚儀共同的技術基礎。
第四代儀器,采用的是“A掃描信號測厚”技術。
前面三代都是“讀數型測厚儀”,不管讀哪幾次波,*終都是靠事先設定的程序由儀器來判定和計算的。而“A掃測厚儀”則是將所有的信號都顯示在屏幕上,由操作者自行判斷、并且可以計算任意兩次波的時間差,也就是說,將測量的主動權交給了操作者,超聲波測厚儀廠家,這對于分析型測厚、以及雜波信號較多的測厚非常有幫助;
第五代儀器,采用的是單晶探頭。
前面四代測厚儀,使用的都是雙晶探頭(只有在超薄件測厚中,才有專門的機型使用高頻單晶探頭),而雙晶探頭,由于晶振片排列的結構性因素,超聲波的傳遞呈現出一個“V”型路徑,這意味著,晶振片發射和接收信號的有效面積勢必受到“V”路徑的影響,也就是說,每個雙晶探頭的測厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。

超聲波測厚,有幾個邊界條件:
1,介質的超聲波聲速在5900m/s上下;
2,只考慮超聲波在介質中的散射衰減、且該衰減水平與普通碳鋼(比如45#鋼)相近;
3,儀器的電路結構所能給予換能器(也就是探頭)的能量是有限的;
4,需要多個探頭的交替使用才能覆蓋全量程。
自超聲測厚技術誕生至今,材料學和工藝學的發展豐富多彩,被測介質的聲學特性也呈現出令人眼花繚亂的多樣性,超聲波測厚儀廠家哪家好,因此,在超聲測厚技術的應用和超聲測厚儀器的選擇上,不能圉于傳統的認知。
超聲測厚儀器的研制、生產和應用,已歷時百年、歷經“五代”。
代儀器,采用的是“始脈沖——回波”技術。即,以“換能器的晶振片起始脈沖”和“次底面回波”的時間差為基礎來計算厚度。國內的普通測厚儀基本上都是這種技術。

超聲波測厚儀探頭按構造分類可分為直探頭、斜探頭、帶曲率探頭、聚焦探頭和表面波探頭1.直探頭: 分為單晶縱波直探頭和雙晶縱波直探頭。2.斜探頭: 包括單晶橫波斜探頭、雙晶橫波斜探頭、單晶縱波斜探頭和爬坡探頭。3.帶曲率探頭: 包括周向曲率和徑向曲率。其中周向曲率探頭適合于無縫鋼管、直縫焊管、筒型鍛件、軸類工件等軸向缺陷的檢測。工件直徑小于2000mm時為保證耦合良好探頭都需磨周向曲率。 徑向曲率探頭適合于無縫鋼管、鋼管對接焊縫、筒型鍛件、軸類工件等徑向缺陷的檢測。工件直徑小于600mm時為保證耦合良好探頭都需磨徑向曲率。4.聚焦探頭: 分為點聚焦和線聚焦。5.表面波探頭: 當縱波入射縫角大于或等于第二臨界角,既橫波折射角度等于90形成表面波。 超聲波測厚儀的探頭在使用時需要注意兩個方面:1.探頭接觸面是否磨損。常用測厚探頭表面為樹脂,長期使用會使其表面粗糙度增加,濟寧超聲波測厚儀廠家,導致靈敏度下降,從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩定,則考慮更換探頭。 2.關注工件表面粗糙度。工件表面粗糙度過大,造成探頭和接觸面耦合效果差,反射回波低,超聲波測厚儀品牌廠家,甚至無法接收到回波信號。以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭和被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。


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