您好，歡迎來到易龍商務(wù)網(wǎng)！
發(fā)布時(shí)間：2021-01-21 04:52
【廣告】
江蘇一六儀器 X射線熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
性能優(yōu)勢(shì)：
下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。
測(cè)厚儀
測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。
一六儀器 國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀
一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些
我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：
一、技術(shù)參數(shù)
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm；
分辨率：0.1μm（F1、N1測(cè)頭）
示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測(cè)涂層厚度
顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)
單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）
持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開背光燈）
通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊
一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
率的jie shou qi ：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎
測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。
膜厚儀：屬于測(cè)厚儀的一種，膜厚儀測(cè)量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂層測(cè)厚儀，為磁阻法和電渦流原理，臺(tái)式的不同原理也有好多種，電感原理等。
