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發布時間:2020-07-24 12:23  
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點,已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu,Au/Ni/Cu/Fe,等等一、功能1。眾所周知,產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求,并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。



江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀 特點
快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上先進的電制冷半導體探測器,能量分辨率更優于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高:由于測試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀器狀態,設定儀器參數,并就有多種先進的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的,可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術參數
X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管
準直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 準直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴散度:9%
測量距離:具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數:光學38-46X,數字放大40-200倍
隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱

