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發布時間:2021-01-04 17:06  
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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
光譜儀,以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫,一1個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。[1]HSP系列組合式光譜分析系統HSP-3000光譜分析儀(進口器件)可測試參數編輯相對光譜功率分布:P(λ)。分為單色儀和多色儀兩種。
近紅外分析技術的一個重要特點就是技術本身的成套性,即必須同時具備三個條件:(1)各項性能長期穩定的近紅外光譜儀,是保證數據具有良好再現性的基本要求;但在NIR區域,吸收強度弱,靈敏度相對較低,吸收帶較寬且重疊嚴重。(2)功能齊全的化學計量學軟件,是建立模型和分析的必要工具;(3)準確并適用范圍足夠寬的模型。這三個條件的有機結合起來,才能為用戶真正發揮作用。因此,在購買儀器時必須對儀器提供的模型使用性有足夠的認識,特別避免個別商家為推銷儀器所做的過度宣傳的不良誘導,為此付出代價的廠家有之,因此,一定要對廠家提供模型與技術支持情況有詳細了解。
多通道光譜儀特征
可通過AvaGige遠程控制、實現人機分離
數字和模擬I/O接口
Store to RAM功能,可以快速存儲一定數目的光譜
歷史通道功能,同時監測多8個函數(如強度、波長)隨時間的變化
實時顯示峰值波長、強度和FWHM值
多通道數據自動拼接成一幅完整的光譜
光強化處理(輻射校準)
自動光學檢查是工業制程中常見的代表性手法,利用光學方式取得成品的表面狀態,以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵。英文名叫AOI(Automatic Optic Inspection)的全稱是自動光學檢測,是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。AOI是近幾年才興起的一種新型測試技術,但發展迅速,目前很多廠家都推出了AOI測試設備。計算機采集光譜數據和處理數據(Datamax和Gram32)。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。