衢州自動回收內存常用解決方案「多圖」

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物理測試能夠表明焊劑漏印的變化情況，以及BGA器件連接點在整個再流工藝過程中的情況，也可以表明在一塊板上所有BGA的情況，以及從一塊板到另一塊板的BGA情況。舉例來說，在再流焊接期間，極度的環境濕度伴隨著冷卻時間的變化，將在BGA焊接點的空隙數量和尺寸大小上迅速反映出來。在BGA器件生產好以后，大量的測試對于組裝過程控制而言仍然是關鍵，但是可以考慮降低檢查的深入程度。1光學顯微鏡分析技術2紅外分析技術3聲學顯微鏡分析4液晶熱點檢測技術5光輻射顯微分析技術6微分析技術。

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僅有橫截面X射線檢測技術，例如:X射線分層法，能夠克服上述條件的制約。橫截面X射線檢測技術具有能夠查出隱藏的焊接點缺陷的能力，通過對焊盤層焊接點的聚焦，能夠揭示出BGA焊接點的連接情況。在同樣的情況下，采用X射線設各所獲得的圖像中，實際情況可能被隱藏掉了，從而不能夠反映出真實的情況。四十年代末世界上誕生了第1只半導體三極管，它以小巧、輕便、省電、壽命長等特點，很快地被各國應用起來，在很大范圍內取代了電子管。

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焊料的數量以及它在連接點的分布情況，通過在BGA連接點的二個或更多個不同的高度 (例如：在印制電路板焊盤接觸面，在元器件接觸面，或者在元器件和印刷電路板之間的一半高度)所產生的橫截面圖像或者“水平切片”予以直接測量，再結合同類BGA連接點的多次切片測量，能夠有效地提供三維測試，可以在對BGA連接點不進行物理橫截面*作的情況下進行檢測。A將兩表筆(不分正負)分別與電阻的兩端引腳相接即可測出實際電阻值。