熱釋光劑量儀中國代理-熱釋光劑量儀-北京東方圓通

熱釋光探測器簡介

熱釋光探測器（TLD）是利用熱致發光原理測量輻射的裝置。熱釋光發光體作為劑量元件，把接收到的射線的能量儲存積累起來，由熱釋光加熱發光裝置加熱后，劑量元件發出光，通過光電倍增管轉換成電信號并輸出顯示。是20世紀60年代發展起來的一種輻射劑量測量方法。

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使用熱釋光劑量片時需要注意哪些？

1、測量后應將探測器放在金屬盒里或金屬板上；

2、要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器，以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用擦洗再用；

3、熱釋光探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；

4、放置熱釋光探測器的器具要保持清潔，熱釋光劑量儀，要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器；

5、熱釋光探測器在照射后和經過熱處理后盡量放在的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。

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熱釋光探測器的依據標準

熱釋光探測器的基本依據是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，產生電離和激發，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導帶，熱釋光劑量儀國內售后服務，在價帶中剩下空穴。被電離激發的電子空穴在亞穩態能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統稱為“發光中心”。處于亞穩態能級上的電子和空穴在無外源激發的環境下，熱釋光劑量儀中國代理，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發的電子和空穴數量增加，所以在線性劑量范圍內磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發光中心中逸出，電子和空穴快速復合，或游弋經導帶后與禁帶中的空穴復合。在上述幾種復合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現象稱為熱釋光。

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