FE膜厚儀在線咨詢 蘇州大塚電子有限公司

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

關于冷卻水的更換沒有特定的時間要求，可目視，發現水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會和空氣中的CO2結合形成酸性環境，從而導致冷卻裝置內部遭到腐蝕）。

積分全球/半球 ，在遭受到強大的沖擊力后有可能會產生變形甚至損壞。對于這種情況，我司將不承擔責任。積分半球的內側涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯系。貨期大約為1.5個月左右。

本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行量子效率測試的系統。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。