您好，歡迎來到易龍商務網！
發布時間：2021-04-01 16:54
【廣告】
一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆
層測厚時采用。
這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。最后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T16921-2005標準（等同ISO3497：2000、ASTMB568和DIN50987）。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀
電鍍液測量杯整套含兩個測量杯，可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用，高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯，嚴格控制了容量和溢出物的處理，用來測試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。
測試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜；是應用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內的物質。專用樣品薄膜是使用方便簡捷，無污染的測試用樣品薄膜，廣泛應用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0。
江蘇一六儀器 專業涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。
單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足
GB/T 16921-2005 標準（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 鍍層層數：多至 5 層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測量時間：通常 30 秒。
5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。
6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
