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蔡司三坐標測量機

三軸聯動與五軸聯動

當下個零件擺放到工作臺上，但其姿態方位與前一個零件不一致時，之前的測頭角度可能會不再適用。因此，在做批量測量時，我們對于零件的位置、姿態方位都有一定程度的要求。而對于五軸系統，這方面的要求會寬松得多，測頭的無級分度特性使得測頭能夠根據零件坐標系的找正作出相應調整，避免了出現測頭角度不適用的情形。

接觸式測頭與光學測頭

對于表面數字化，其目的是要獲取零件表面輪廓，這就需要大量獲取輪廓的空間點坐標。而對于接觸式測頭來說，一個一個點逐次獲取的方式是無法勝任百萬數量級點數的要求的，哪怕是連續掃描測頭，也只是通過測頭不離開零件表面的方式來提高取點速度，本質上還是單點采集。這類應用當中，線光源和面光源測頭就很好彌補了接觸式測頭的不足，線掃描測頭通過一條由若干點的激光在工件表面移動，即可掃描出一片區域;而面拍照測頭則是通過一組編碼的光線柵格，一次性獲取一個特定大小區域內的點云。

三坐標測頭

光學測頭相比接觸式測頭還有另一方面的優勢。接觸式測頭采點時，測頭記錄的是測球中心的空間坐標，然后根據測球半徑來進行補償，得出實際點的坐標。但當測量特定位置的三維曲線時，如果不按照測點的法線方向去采點，會存在半徑補償余弦誤差;而如果按照測點的法線方向去采點，又會產生實際測點位置出現偏差的情況。這種情形在測量透平葉片時尤為常見。