莆田鍍層分析儀信賴推薦江蘇一六儀器有限公司

發(fā)布時間：2020-12-30 07:12

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一六熒光測厚儀十年以上研發(fā)團隊集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0.005um

工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點，已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標。江蘇一六儀器X熒光光譜測厚儀特點快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。

一六儀器專業(yè)測厚儀多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

能量色散X熒光光譜儀定義及原理

X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進行快速同時測定的儀器。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。二．磁感應測量原理鍍層厚度分析儀采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點，由探測器本身的能量分辨本領來分辨探測到的X射線。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器 X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點

1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

2.可測試超薄的鍍層。

3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。

4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。

5.對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。

6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

8.可以對樣品進行測試

9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標樣