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發布時間：2020-12-31 07:21
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一六儀器 國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀
一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
測厚儀操作規程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規范，很容易導致測厚儀出現故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規范及一些常見問題的處理方法：
四.安全衛生
1、源需由專人保管；
2、應有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區一米遠）；
3、長期不使用時,應放置保管場所；
4、衛生
5、應定期清理主機和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。
X射線熒光的基本原理
鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀---一六儀器 歡迎咨詢聯系
X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。
當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。
一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀
性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
精密微型滑軌：快速精準定位樣品。
EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
如何安裝X射線測厚儀
2) C型架按運行軌跡定位，并作感觀質量檢查。
3) C型架落入導軌后，就進行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應順著撓性履帶的走向固定牢固。
4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據現場施工條件分頭進行吊裝。
5) 電纜敷設，除同軸電纜外還包括控制系統電纜和測量信號系統電纜。
