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三維立體內(nèi)窺鏡的特點(diǎn)

與單物鏡陰影測量法和雙物鏡測量法均是先人為選擇測量點(diǎn)再進(jìn)行該點(diǎn)的坐標(biāo)計(jì)算不同的是，三維立體相位掃描測量技術(shù)是通過系統(tǒng)的相位掃描與計(jì)算，首先構(gòu)建出一個由無數(shù)的具有三維坐標(biāo)信息的點(diǎn)云集合，然后由操作者選擇測量模式并選取缺陷測量點(diǎn)，再由系統(tǒng)完成測量;對于無法獲得三維坐標(biāo)也即無法測量的區(qū)域直接使用紅色體現(xiàn)，系統(tǒng)禁止在這些區(qū)域選取測量點(diǎn);操作時不需要陰影線的鑒別、測量點(diǎn)的匹配等步驟。不僅具有極強(qiáng)的易用性，也意味著盡可能地減少了人為操作誤差，增大了測量結(jié)果驗(yàn)證的可重復(fù)性，測量速率高，測量結(jié)果更加準(zhǔn)確，測量準(zhǔn)確度可達(dá)97%以上，測量讀數(shù)在0.01mm位，其中三維點(diǎn)云模型的深度識別在0.001mm位，明顯優(yōu)于其他測量方法，滿足孔探工作中越來越高的測量準(zhǔn)確要求。

淺談影像內(nèi)窺鏡

為使用小于1/6"的感光芯片位于內(nèi)窺鏡軸端直接取像，經(jīng)訊號傳輸線傳送至監(jiān)視器顯像，超細(xì)內(nèi)窺鏡，因影像直接轉(zhuǎn)成電氣訊號所以內(nèi)窺鏡無法直接目視，照明采用LED位于軸端直接照明；優(yōu)點(diǎn)為制造成本相對較低且與軸長無關(guān)，超細(xì)內(nèi)窺鏡公司，以屏幕觀察輕松容易，能儲存照片、錄像為離線分析作依據(jù)；缺點(diǎn)為受限于感光芯片位于軸端，內(nèi)窺鏡軸徑采用1/18”感光芯片較小只能達(dá)5.5mm（保證耐10m水壓并集成高亮度LED燈）左右，如適當(dāng)降低可靠性要求，超細(xì)內(nèi)窺鏡品牌，可以做到3.8mm。另外耐環(huán)境性較差，容許耐溫性及耐震性均不及光學(xué)視內(nèi)窺鏡，無法應(yīng)用于各種場合。

目視檢測內(nèi)窺鏡

目視檢測是無損檢測的一個分支，是一項(xiàng)專門的檢測技術(shù)，目視檢測較為直接的辦法就是采用視頻工業(yè)內(nèi)窺鏡，工業(yè)內(nèi)窺鏡可以在不破壞被檢測物體的表面的前提下，簡便、準(zhǔn)確地觀察物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)。工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡能適用于各種人無法進(jìn)入的環(huán)境或?qū)θ梭w有危害的場所，結(jié)合了電子、光學(xué)及精密機(jī)械等多項(xiàng)高新技術(shù)，超細(xì)內(nèi)窺鏡哪家好，通過CCD在顯示器上直接顯示圖像，可以與計(jì)算機(jī)連接，對圖像進(jìn)行測量、拍照等處理;可以在不需要拆卸或破壞被檢測物體的前提下檢查各類物體的內(nèi)部相關(guān)狀況。

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